Вестник БФУ им. И. Канта

2014 Выпуск №04

Назад к списку Скачать статью

Исследование зависимости температурного коэффициента линейного расширения от интегральной интенсивности основного пика ситалловой подложки

Страницы / Pages
13-17

Аннотация

Представлены результаты исследований параметров оптических деталей из стеклокерамического материала ситалла СО-115 методом рентгеновской дифрактометрии. Показана возможность технологического прецизионного контроля качества ситалловых деталей с помощью рентгеноструктурных методов. Выявлена прямая зависимость температурного коэффициента линейного расширения от интегральной интенсивности пика на рентгеновской дифрактограмме ситалла.

Список литературы

1. Галявов И. Р., Патрикеев А. П., Понин О. В. и др. Интерференционные дилатометры для измерения ТКЛР термостабильных оптических материалов //Прикладная оптика — 2010 : тезисы IX международн. конф. СПб., 2010.
2. Ponin O. V. et. al. Demonstrating the suitability of Sitall for the SALT primary mirror // Proc. of SPIE, 2003. Vol. 4837. P. 795—804.
3. Павлушкин Н. М., Саркисов П. Д., Левина B. C. Исследование некоторых физико-химических свойств железосодержащих стекол // Использование в стекольном производстве недефицитных материалов. М., 1971. С. 72—81.
4. Павлушкин Н. М. Основы технологии ситаллов. М., 1970.
5. Дуброво С. К. Стеклообразные силикаты лития. М., 1964.
6. Азарова В. В., Голяев Ю. Д., Дмитриев В. Г. Кольцевые газовые лазеры с магнитооптическим управлением в лазерной гироскопии // Квантовая электроника. 2000. № 2. С. 30.
7. Шаров А. А. и др. Способ определения неоднородности коэффициента линейного расширения оптической заготовки : пат. на изобретение № 2254567, G01N 25/16, G09B 9/02 от 20.06.2005. Бюл. № 17.