Поиск
Подать статью EN
Физико-математические и технические науки

2014 Выпуск №04

Назад к списку Скачать статью
Лятун И. И. Ершов П. А. Азарова В. В.

Исследование зависимости температурного коэффициента линейного расширения от интегральной интенсивности основного пика ситалловой подложки

Страницы / Pages
13-17
[html]ситалловая деталь температурный коэффициент линейного расширения (ТКЛР) лазерный гироскоп рентгеновская дифрактометрия This paper presents the results of studies of the parameters of optical components of a glassceramic material CO-115 by X-ray diffractometry. The possibility of technological precision quality control glassceramic parts using X-ray diffraction methods. The direct dependence of the temperature coefficient of linear expansion of the integrated intensity of the X-ray diffraction peak at the glassceramic.

Аннотация

Представлены результаты исследований параметров оптических деталей из стеклокерамического материала ситалла СО-115 методом рентгеновской дифрактометрии. Показана возможность технологического прецизионного контроля качества ситалловых деталей с помощью рентгеноструктурных методов. Выявлена прямая зависимость температурного коэффициента линейного расширения от интегральной интенсивности пика на рентгеновской дифрактограмме ситалла.

Список литературы

1. Галявов И. Р., Патрикеев А. П., Понин О. В. и др. Интерференционные дилатометры для измерения ТКЛР термостабильных оптических материалов //Прикладная оптика — 2010 : тезисы IX международн. конф. СПб., 2010.
2. Ponin O. V. et. al. Demonstrating the suitability of Sitall for the SALT primary mirror // Proc. of SPIE, 2003. Vol. 4837. P. 795—804.
3. Павлушкин Н. М., Саркисов П. Д., Левина B. C. Исследование некоторых физико-химических свойств железосодержащих стекол // Использование в стекольном производстве недефицитных материалов. М., 1971. С. 72—81.
4. Павлушкин Н. М. Основы технологии ситаллов. М., 1970.
5. Дуброво С. К. Стеклообразные силикаты лития. М., 1964.
6. Азарова В. В., Голяев Ю. Д., Дмитриев В. Г. Кольцевые газовые лазеры с магнитооптическим управлением в лазерной гироскопии // Квантовая электроника. 2000. № 2. С. 30.
7. Шаров А. А. и др. Способ определения неоднородности коэффициента линейного расширения оптической заготовки : пат. на изобретение № 2254567, G01N 25/16, G09B 9/02 от 20.06.2005. Бюл. № 17.